| Lieu d'origine: | Chine |
| Nom de marque: | Hontotest |
| Certification: | ISO,GB/T,JB/T |
| Numéro de modèle: | DX-6600 |
| Quantité de commande min: | 1 ensemble |
|---|---|
| Prix: | USD12,099.00-USD12,599.00 |
| Détails d'emballage: | Case en bois d'exportation standard |
| Délai de livraison: | Environ 3 jours |
| Conditions de paiement: | D/P, T/T, D/A, L/C |
| Capacité d'approvisionnement: | 1000 ensembles par mois |
| Nom: | Spectromètre multifonctionnel XRF de haute précision | Analyseur de fluorescence X pour l'analys | Dimensions: | 500*400*350(mm) |
|---|---|---|---|
| Poids: | 40KG | Plage d'éléments analysables: | Soufre (S) - Uranium (U) dans le tableau périodique |
| Plage de mesure: | 1 ppm—99,99 % | Temps de mesure: | 60-300s (ajustement automatique du logiciel) |
Introduction :
Le spectromètre multifonctionnel utilise des détecteurs haute précision, haute
sur des détecteurs dans des conditions non sous vide, et applique une nouvelle génération d'alimentations haute tension et de tubes à rayons X pour améliorer la fiabilité du produit et utiliser la haute puissance du nouveau tube à rayons X pour améliorer l'efficacité des tests de l'instrument.
Application :
Il est principalement utilisé pour la détection d'éléments tels que le plomb (Pb), le mercure (Hg), le cadmium (Cd), le chrome total (Cr) et le brome total (Br) dans les produits électroniques et électriques soumis à un contrôle réglementaire ; pour la détection du chlore (Cl) et du brome (Br) dans les produits à teneur contrôlée en halogènes ; pour l'analyse de la composition des alliages tels que l'acier inoxydable et les alliages de cuivre ; et pour l'analyse de l'épaisseur des revêtements courants.
Performances et configuration de l'instrument :
| Hôte pécifications echniques | Ordinateur Configuration du Corps Plage d'éléments analysablesrincipal et ube à quipement d'iFpression | |
| Dimensions | 500*400*350(mm) | Ordinateur HP Imprimante jet d'encre couleur format A4 |
| Taille de la Plage d'éléments analysableshambre d'éoint | 400*300*150mm) | |
| Taille du oint | φ6#,φ4#, φ3#,φ2#, φ0.5# | |
| n40KG | C | onfiguration des Fonctions du Plage d'éléments analysablesogiciel |
| TF | onctionnementA■ROHS ■Sans halogène | □ELV □Analyse de l'épaisseur de placage □Analyse d'alliage □Métaux précieux □Directive jouets □Test du cuir □Détection de batterie Remarque : ■Configuration standard □Non configuré H |
| umidité Relative de l'environnement de Fonctionnement | ≤70% (sans condensation)Plage d'éléments analysablesSoufre (S) - Uranium (U) dans le tableau périodique | |
| Description de la fonction | Directive RoHS | |
| dans les équipements électriques et électroniques | + Sans halogène : Contrôle des éléments Pb (plomb), Cd (cadmium), Hg (mercure), Cr total (chrome) et Br (brome), Cl (chlore) totaux Types d'échantillons AnalysésSolide, liquide, granulaire, poudre, pâte, etc.Plage de | |
| M1ppm - 99,99%M | esure | |
| 60-300s (réglage automatique par logiciel)Période de G | arantie | |
| Un an (12 mois), y compris trois composants principaux : tube à rayons X, détecteur, alimentation haute tensionétecteur | Importations des États-Unis : Sipin | |
| Tube à R | ayons XPuissance maximale : 50W, tube à rayons X à fenêtre latérale à cible de molybdène (Mo) (Be)N | |
| ormes du S | ystème et Autres | |
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